簡(jiǎn)要描述:表面光電壓是固體表面的光生伏特效應,是光致電子躍遷的結果。
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表面光電壓是固體表面的光生伏特效應,是光致電子躍遷的結果。
1876年,W.GAdam就發(fā)現了這一光致電子躍遷現象;
1948年才將這一光生伏特效應作為光譜檢測技術(shù)應用于半導體材料的特征參數和表面特性研究上,這種光譜技術(shù)稱(chēng)為表面電壓技術(shù)(Surface Photovoltaic Technique,簡(jiǎn)稱(chēng)SPV)或表面光電壓譜(Surface Photovoltaic Spectroscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)SPS)。表面光電壓技術(shù)是一種研究半導體特征參數的途徑,這種方法是通過(guò)對材料光致表面電壓的改變進(jìn)行分析來(lái)獲得相關(guān)信息的。
1970年,表面光伏研究獲得重大突破,美國麻省理工學(xué)院Gates教授的研究小組在用低于禁帶寬度能量的光照射CdS表面時(shí),歷史性的*次獲得入射光波長(cháng)與表面光電壓的譜圖,以此來(lái)確定表面態(tài)的能級,從而形成了表面光電壓這一新的研究測試手段。
SPV技術(shù)是較靈敏的固體表面性質(zhì)研究的方法之一,其特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、再現性好、不污染樣品,不破壞樣品形貌,因而被廣泛應用于解析光電材料光生電荷行為的研究中。
SPV技術(shù)所檢測的信息主要是樣品表層(一般為幾十納米)的性質(zhì),因此不受基底或本體的影響,這對光敏表面的性質(zhì)及界面電子轉移過(guò)程的研究顯然很重要。由于表面電壓技術(shù)的原理是基于檢測由入射光誘導的表面電荷的變化,其檢測靈敏度很高,而借助場(chǎng)誘導表面光電壓譜技術(shù)可以用來(lái)測定半導體的導電類(lèi)型(特別是有機半導體的導電類(lèi)型)、半導體表面參數,研究納米晶體材料的光電特性,了解半導體光激發(fā)電荷分離和電荷轉移過(guò)程,實(shí)現半導體的譜帶解釋?zhuān)檠芯糠象w系的光敏過(guò)程和光致界面電荷轉移過(guò)程提供可行性方法。
瞬態(tài)吸收光譜研究光生載流子反應動(dòng)力學(xué),半導體受激光激發(fā)后產(chǎn)生載流子,在其衰減過(guò)程中可發(fā)生一系列的變化和反應.時(shí)間分辨紫外可見(jiàn)吸收光譜可監測其隨時(shí)間變化。首先應需確定載流子的檢測波長(cháng),光生電子和空穴的特征吸收波長(cháng)可調控電極一種載流子濃度而測量另一種載流子的瞬態(tài)光吸收與波長(cháng)的關(guān)系。
瞬態(tài)表面光電壓譜的應用
光生載流子動(dòng)力學(xué)主要測試技術(shù),載流子動(dòng)力學(xué)測試技術(shù)主要有電學(xué)和譜學(xué)兩類(lèi).電學(xué)方法主要是光電化學(xué),測量方式又分時(shí)間域和頻率域.時(shí)間域方法主要有瞬態(tài)光電壓(TPV)和瞬態(tài)光電流(TPC),頻率域方法主要有電化學(xué)阻抗譜(EIS)和光強度調制光電壓譜(IPVS)和光強度調制光電流譜(IMPS)等.譜學(xué)方法主要是瞬態(tài)吸收光譜和瞬態(tài)熒光光譜。這里主要介紹時(shí)間域的光電化學(xué)測量方法(以TPV為例)。瞬態(tài)吸收光譜是研究半導體光生載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程和反應歷程的強有力手段之一,它可以獲得半導體體內光生載流子產(chǎn)生、俘獲、復合、分離過(guò)程的重要微觀(guān)信息。
半導體激光器從某一穩定工作狀態(tài)過(guò)渡到另一穩定工作狀態(tài)的過(guò)程中所出現的瞬態(tài)現象,或對階躍電流的響應。主要有激射延遲、張弛振蕩和自脈動(dòng)。這些現象限制著(zhù)半導體激光器振幅調制或頻率調制的性能,特別是最高調制速率。
瞬態(tài)光電壓譜(Transient photovoltage spectrum)給出了不同樣品光生電荷分離的動(dòng)力學(xué)信息, 正向光伏信號代表光生電子由表面向內部轉移。 通常半導體材料的瞬態(tài)光伏分為漂移和擴散過(guò)程,分別對應短時(shí)間范圍和長(cháng)時(shí)間范圍的光伏信號。
瞬態(tài)表面光電壓工作原理
瞬態(tài)表面光電壓實(shí)驗光源為激光器, 脈沖納秒激光經(jīng)棱鏡分光后被分別射入光電倍增管和樣品池中,激光強度通過(guò)漸變圓形中性濾光片進(jìn)行調節. 光電倍增管記錄參比信號, 樣品信號經(jīng)放大器的數字示波器進(jìn)行記錄。 樣品池由具有良好屏蔽電磁噪音的材料制成。樣品池內部結構由上至下分別為: 鉑網(wǎng)電極, 云母片, 被測樣品, FTO電極。
瞬態(tài)光電壓研究光生電子的傳輸行為,其光電壓響應包括上升和衰退兩部分,光電壓上升部分在物理上對應于TiO?電極導電基底電子濃度增加(類(lèi)似于電容充電過(guò)程),此過(guò)程由光生電子擴散到達基底引起,光電壓下降部分主要對應于電子離開(kāi)導電基底的復合過(guò)程(類(lèi)似于電容放電過(guò)程)。瞬態(tài)表面光電壓譜光生載流子動(dòng)力學(xué);瞬態(tài)光電壓研究光生電子的傳輸行為
技術(shù)參數
項目 | 參數 |
激光器 | Nd:YAG脈沖納秒激光器(整機*) |
激光器參數 | 波長(cháng)1064nm@320mJ;532nm@180mJ;355nm@60mJ;266nm@40mJ;脈沖寬度 (1064 nm) 10 - 14 ns;控溫精度0.05℃;內部預熱器,可快速預熱 |
OPO激光器(選配) | 波長(cháng)范圍:210-2200nm連續可調,計算機控制波長(cháng)調節,峰值能量輸出>20mJ,重復頻率20HZ |
系統時(shí)間分辨率 | 5ns |
探測靈敏度 | 0.1mOD |
數據采集 | 12bit/16bit高分辨率數字示波器 |
光路 | 采用全封閉結構設計,無(wú)任何外部環(huán)境干擾 |
樣品室 | 標配三明治結構樣品池,可根據要求定制樣品空間,允許進(jìn)行更多實(shí)驗環(huán)境的光路定制,如支持低溫樣品環(huán)境、顯微鏡微區光譜、強磁場(chǎng)環(huán)境等。 |
光功率計 | 測試波長(cháng)范圍190-11000nm,功率范圍0-2000mw; 配合軟件實(shí)時(shí)數據采集,軟件還內置了量子效率計算功能 |
軟件 | 軟件集成控制脈沖激光器、OPO激光器、數據同步、數據采集、數據放大、數據分析、全自動(dòng)處理、數據導出等功能。 |
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